工業(yè)內窺鏡搭載3D相位掃描測量法可有效降低測量選點誤差
韋林工業(yè)內窺鏡搭載了業(yè)內先進的測量方法，具體包括：單物鏡的三維立體相位掃描測量3DPM、和三維立體雙物鏡測量技術3DPM。工業(yè)內窺鏡搭載3D相位掃描測量法可生成真正意義上的三維還原圖，可有效降低測量選點誤差，比傳統(tǒng)雙物鏡測量法優(yōu)越。
使用工業(yè)內窺鏡進行檢測并對缺陷進行測量時，檢測人員往往需要在圖像上選點，然后再進行長度測量、距離測量等操作。傳統(tǒng)雙物鏡測量，因為被檢對象結構的復雜性以及視覺誤差等諸多因素，容易出現人為選點誤差，從而造成測量結果有較大的偏差。而3D相位掃描測量法的測量探頭與常規(guī)探頭不同，探頭與鏡頭內置光柵電學連接，3D相位測量技術通過光柵掃描被測物表面，獲取3D相位測量圖像，確定每個點的唯一坐標，并在后臺可建立3D點云圖形及深度圖，可通過點云圖判斷打點的位置，從而大大降低了人為選點失誤的概率。
如下圖所示，為傳統(tǒng)雙物鏡測量葉片邊緣掉塊的示意圖。為了保證測量精度，通常在盡可能靠近葉片邊緣處選點。圖中選點看似準確，應該是選在該級葉片上，但實際情況是選在了發(fā)動機機匣上，構成了空間的點到線測量，造成了測量誤差。這種情況在采用傳統(tǒng)雙物鏡測量法時難免發(fā)生，肉眼難以分辨，測量結果自然不準確。
采用3D技術可以解決這一問題。針對上述情況，如果采用3D相位測量技術，可以構建3D點云圖形，并協(xié)助判斷打點位置，如下圖所示，可以看出之前所選的靠下位置的點已經脫離該級葉片的表面，實現上是位于下一級葉片上。糾正后的正確選點位置如圖中綠色線條所示，通過及時發(fā)現選點誤差并加以修正，從而得到正確的測量結果。
韋林工業(yè)內窺鏡Mentor Visual iQ，不僅支持單物鏡的三維立體相位掃描測量，也支持三維立體雙物鏡測量技術，這在業(yè)內其他同類產品中都是做不到的。韋林工業(yè)內窺鏡搭載3D相位掃描測量法，可通過點云圖，精準選點，避免引入人為誤差，測量結果更準確！
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